यो रिपोर्ट गरिएको छ कि संयुक्त राज्य ऊर्जा विभाग (DOE) ले भर्खरै लामो-समय द्रुत जीवन परीक्षणमा आधारित तेस्रो LED चालक विश्वसनीयता रिपोर्ट जारी गरेको छ।संयुक्त राज्य ऊर्जा विभागको ठोस-राज्य प्रकाश (SSL) को अनुसन्धानकर्ताहरूले विश्वास गर्छन् कि पछिल्लो परिणामहरूले द्रुत दबाव परीक्षण (AST) विधिको पुष्टि गरेको छ, जसले विभिन्न कठोर परिस्थितिहरूमा राम्रो प्रदर्शन देखाएको छ।थप रूपमा, परीक्षण परिणामहरू र मापन असफलता कारकहरूले थप विश्वसनीयता सुधार गर्न सान्दर्भिक रणनीतिहरूको चालक विकासकर्ताहरूलाई सूचित गर्न सक्छन्।

सबैलाई थाहा छ, एलईडी ड्राइभरहरू, जस्तै एलईडी कम्पोनेन्टहरू, इष्टतम प्रकाश गुणस्तरको लागि महत्त्वपूर्ण छन्।उपयुक्त ड्राइभर डिजाइनले फ्लिकर हटाउन सक्छ र समान प्रकाश प्रदान गर्न सक्छ।र ड्राइभर पनि LED बत्तीहरू वा प्रकाश फिक्स्चरमा खराबीमा सबैभन्दा सम्भावित घटक हो।ड्राइभरहरूको महत्त्व बुझेपछि, DOE ले 2017 मा दीर्घकालीन चालक परीक्षण परियोजना सुरु गर्‍यो। यो परियोजनामा ​​एकल च्यानल र बहु-च्यानल ड्राइभरहरू समावेश छन्, जसलाई छतको खाँचो जस्ता उपकरणहरू ठीक गर्न प्रयोग गर्न सकिन्छ।

संयुक्त राज्य ऊर्जा विभागले पहिले परीक्षण प्रक्रिया र प्रगति बारे दुई रिपोर्टहरू जारी गरेको छ।अब यो तेस्रो परीक्षण डेटा रिपोर्ट हो, जसमा AST सर्तहरूमा 6000-7500 घण्टा सञ्चालनको उत्पादन परीक्षण परिणामहरू समावेश छन्।

वास्तवमा, उद्योगसँग धेरै वर्षको लागि सामान्य अपरेटिङ वातावरणमा ड्राइभहरू परीक्षण गर्न धेरै समय छैन।यसको विपरित, संयुक्त राज्य ऊर्जा विभाग र यसको ठेकेदार आरटीआई इन्टरनेशनलले एक्चुएटरलाई 7575 वातावरणमा परिक्षण गरेको छ - भित्री आर्द्रता र तापमान 75 डिग्री सेल्सियसमा राखिएको छ। यो परीक्षणमा चालक परीक्षणका दुई चरणहरू समावेश छन्, स्वतन्त्र च्यानल।एकल स्टेज डिजाइनको लागत कम छ, तर यसमा छुट्टै सर्किटको अभाव छ जसले पहिले AC लाई DC मा रूपान्तरण गर्छ र त्यसपछि वर्तमानलाई नियमन गर्छ, जुन दुई-चरण डिजाइनको लागि अद्वितीय छ।

संयुक्त राज्य ऊर्जा विभागले रिपोर्ट गरेको छ कि 11 विभिन्न ड्राइभहरूको परीक्षणमा, सबै ड्राइभहरू 7575 वातावरणमा 1000 घण्टासम्म चलेको थियो।जब ड्राइभ वातावरणीय कोठामा अवस्थित हुन्छ, ड्राइभमा जडान गरिएको LED लोड बाहिरी वातावरणीय अवस्थाहरूमा अवस्थित हुन्छ, त्यसैले AST वातावरणले ड्राइभलाई मात्र असर गर्छ।DOE ले AST सर्तहरूमा सञ्चालन समयलाई सामान्य वातावरणमा सञ्चालन हुने समयसँग सम्बद्ध गरेको छैन।यन्त्रहरूको पहिलो ब्याच अपरेशनको 1250 घण्टा पछि असफल भयो, यद्यपि केही उपकरणहरू अझै सञ्चालनमा छन्।4800 घण्टाको परीक्षण पछि, 64% यन्त्रहरू असफल भए।जे होस्, कठोर परीक्षण वातावरणलाई विचार गर्दै, यी परिणामहरू पहिले नै धेरै राम्रो छन्।

शोधकर्ताहरूले पत्ता लगाएका छन् कि चालकको पहिलो चरणमा धेरै गल्तीहरू हुन्छन्, विशेष गरी पावर फ्याक्टर सुधार (PFC) र इलेक्ट्रोम्याग्नेटिक हस्तक्षेप (EMI) सप्रेसन सर्किटहरूमा।ड्राइभरको दुवै चरणहरूमा, MOSFET मा पनि त्रुटिहरू छन्।PFC र MOSFET जस्ता क्षेत्रहरू निर्दिष्ट गर्नका साथै ड्राइभर डिजाइन सुधार गर्न सक्छ, यो AST ले यो पनि संकेत गर्छ कि ड्राइभरको कार्यसम्पादन निगरानीको आधारमा त्रुटिहरू सामान्यतया भविष्यवाणी गर्न सकिन्छ।उदाहरणका लागि, पावर फ्याक्टर र सर्ज करन्टको निगरानीले प्रारम्भिक त्रुटिहरू पहिले नै पत्ता लगाउन सक्छ।फ्ल्यासिङमा भएको बृद्धिले पनि खराबी हुन लागेको संकेत गर्छ।

लामो समयदेखि, DOE को SSL कार्यक्रमले गेटवे परियोजना अन्तर्गत अनुप्रयोग परिदृश्य उत्पादन परीक्षण र क्यालिपर परियोजना अन्तर्गत व्यावसायिक उत्पादन प्रदर्शन परीक्षण सहित SSL क्षेत्रमा महत्त्वपूर्ण परीक्षण र अनुसन्धान गर्दै आएको छ।